測厚儀的使用與區(qū)分
選擇測厚儀的考慮因素
涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳.此種方法測量精度高,FT220涂層測厚儀
2.渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高,NT230涂層測厚儀。
3.超聲波測厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴,測量精度也不高.
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩
5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合.
國內(nèi)目前使用zui為普遍的是第1、2兩種方法。
常規(guī)涂層測厚儀的原理
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復(fù)雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。
涂層測厚儀的應(yīng)用行業(yè)和分類
涂層測厚儀的應(yīng)用行業(yè)分布在電鍍、噴涂;管道防腐;鋁型材;鋼結(jié)構(gòu);印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等。
電鍍、噴涂:這個行業(yè)是使用我們儀器zui多的,占每年銷量相當(dāng)大的比例,是我們主要用戶群體,需要精力去不斷挖掘。
管道防腐:主要以石化方面的用戶比較多,一般防腐層比較厚,LKTC-4測厚儀的用戶比較多;
鋁型材:今年以來受國家實施強制標(biāo)準(zhǔn),型材企業(yè)換發(fā)許可證的影響,該行業(yè)出現(xiàn)的好勢頭,主要測型材上面的氧化膜,據(jù)了解生產(chǎn)企業(yè)每少鍍一微米,一噸型材“節(jié)約”150元,非??捎^,因此國家強制要求配備包括涂層測厚儀在內(nèi)的相關(guān)檢測設(shè)備。此舉也給我們帶來了非常好的機會。這個機會也同樣受到競爭對手的關(guān)注,他們zui大限度的調(diào)低了價格,而且采取鋪貨等多種方式迅速在此行業(yè)展開攻勢.
鋼結(jié)構(gòu):對于我們的產(chǎn)品這類企業(yè)也可以單獨劃為一個行業(yè)。涂層測厚儀在此行業(yè)也確實有很大的應(yīng)用,包括鐵塔等廠家zui近購買信息也比較多;
印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等:這類企業(yè)相對來講數(shù)特殊行業(yè),購買量目前來看只是來自零星一些廠家。
涂層測厚儀的檢測原理
磁性測厚原理:當(dāng)測頭與覆層接觸時,測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。
渦流測厚原理:利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場,當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
根據(jù)涂層測厚儀的檢測原理:可以分磁性涂層測厚儀,即是被測量的底材是帶有磁性的,如鋼,鐵等,還有一種顧名思義就是非磁性涂層測厚儀,也叫渦流測厚儀,如底材是鋁。還有一種就是雙功能涂層測厚儀,就是說他的底材不管是鐵或者是鋁,都是可以自動識別的??蛻艨梢愿鶕?jù)自己的測量需求來選擇。